Máy phân tích tổn thất pin PV nào tốt?

Có thể đàm phánCập nhật vào01/16

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

Máy phân tích tổn thất hiệu quả pin quang điện QE-RX có thể được sử dụng để nghiên cứu và phát triển pin mặt trời hiệu quả cao. QE-RX không chỉ có thể đo dữ liệu PV-EQE, độ phản xạ và PV-IQE mà còn có thể phân tích tổn thất Jsc, Voc và FF bằng cách kết hợp phần mềm phân tích SQ-JVFLA. Guangliang đã tích hợp ba chức năng thử nghiệm khác nhau trong QE-RX và phát triển phần mềm SQ-JVFLA để giúp người dùng phân tích ba tổn thất khác nhau bằng cách sử dụng lý thuyết giới hạn nhiệt Shockley-Queisser. QE-RX là bạn

Chi tiết sản phẩm

đặc sắc

Sản phẩm QE-RXMáy phân tích tổn thất hiệu quả pin PV Đặc sắc như sau:

* Độ chính xác cao và độ không chắc chắn thấp

Hiệu chuẩn QE-RX là NIST truy xuất nguồn gốc, làm cho dữ liệu thử nghiệm của QE-RX ít không chắc chắn hơn bất kỳ hệ thống thử nghiệm EQE nào khác. QE-RX được phát triển bởi Enlitech, một phòng thí nghiệm hiệu chuẩn 10 năm được chứng nhận ISO/IEC 17025. Điều này làm cho kết quả thử nghiệm của QE-RX trên pin mặt trời Si rất chính xác. Dựa vào QE-RX, nó sẽ cung cấp cho bạn kết quả đáng tin cậy.

* Cấu trúc nhỏ gọn nhưng đa chức năng

QE-RX tích hợp tất cả các thành phần quang học và cơ khí bên trong thân máy 80cm x 80cm x 60cm, bao gồm bộ khuếch đại khóa thu tín hiệu điện. Không giới hạn ở kích thước nhỏ gọn của nó, QE-RX vẫn cung cấp nhiều dữ liệu thử nghiệm khác nhau, bao gồm EQE cho pin mặt trời, phản ứng quang phổ, phản xạ và IQE. Nhỏ gọn và linh hoạt là lợi thế của QE-RX.

* Phân tích tổn thất điện

QE-RX, kết hợp với phần mềm SQ-JVFL, có thể cung cấp các tính năng phân tích hoàn chỉnh nhất bao gồm Jsc-loss, Voc-loss, FF-loss và tính toán khe băng. Các thông số này là những yếu tố quan trọng trong việc kiểm soát sản lượng và khuyến nghị hiệu quả sản xuất, làm cho QE-RX trở thành đối tác trong ngành công nghiệp quang điện.

. Được sử dụng trong PESC, PERC, PERL, HJT, Back Contact, Double Side và TOP Con Silicon Solar Cell

Cung cấp dữ liệu về QE (hiệu suất lượng tử), PV-EQE (hiệu suất lượng tử bên ngoài), IPCE (hiệu suất chuyển đổi photon-electron tới), SR (phản ứng quang phổ), IQE (hiệu suất lượng tử bên trong) và độ phản xạ.

Cấu trúc nhỏ gọn và độ lặp lại cao hơn 99,5%.

. Phạm vi bước sóng: 300~1200 nm

.Jsc phân tích và báo cáo tổn thất (sử dụng phần mềm SQ-JVFLA).

Phân tích và báo cáo tổn thất nghề nghiệp (sử dụng phần mềm SQ-JVFLA).

Phân tích và báo cáo tổn thất FF (sử dụng phần mềm SQ-JVFLA).

Báo cáo đánh giá độ không đảm bảo EQE được cung cấp và kiểm soát chất lượng được chứng nhận ISO/IEC 17025 để đóng góp bài báo trên tạp chí.

. Thiết bị kiểm tra mẫu đa dạng và tùy chỉnh.